- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analogues; mesure des angles; mesure des superficies; mesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 5/28 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de techniques mécaniques pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
Détention brevets de la classe G01B 5/28
Brevets de cette classe: 493
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Mitutoyo Corporation | 1218 |
34 |
| Bruker Nano, Inc. | 334 |
17 |
| The Boeing Company | 19843 |
16 |
| Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | 257 |
14 |
| Carl Mahr Holding GmbH | 118 |
7 |
| Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH | 433 |
6 |
| The Regents of the University of California | 18943 |
5 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
5 |
| JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH | 15 |
5 |
| Renishaw plc | 739 |
5 |
| Honeywell International Inc. | 13799 |
4 |
| NEC Corporation | 32703 |
4 |
| Georgia Tech Research Corporation | 2453 |
4 |
| KLA-Tencor Technologies Corporation | 346 |
4 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 34 |
4 |
| Veeco Instruments Inc. | 332 |
4 |
| Agc, Inc. | 4029 |
4 |
| Papadimitriou, Wanda | 12 |
4 |
| Stylwan IP Holding, LLC | 12 |
4 |
| The Jason Papadimitriou Irrevocable Trust | 12 |
4 |
| Autres propriétaires | 339 |